اندازه‌گیری ویژگی‌های اپتیکی غیرخطّی لایه‌های نازک نانوساختاری مس و روی

نویسندگان

1 دانشگاه تهران

2 پژوهشگاه علوم هسته‌ای، تهران و فنون

3 پژوهشگاه علوم و فنون هسته‌ای، تهران

چکیده

  در این مقاله لایه­های نازک نانوساختار مس و روی به روش لایه نشانی لیزر پالسی تهیه شده­ و ضرایب جذب و شکست غیرخطی این لایه‌ها با استفاده از روش روبش- z اندازه­گیری و بررسی شده است. جزئیات پارامترهای لایه نشانی لیزر پالسی برای هر دو فلز مس و روی ارائه شده است. برای انجام آزمایش روبش- z از لیزر موج   اندازۀ ضریب جذب و ضریب شکست غیرخطی لایه­های نازک نانوساختاری مس و روی به کمک نمودارهای آزمایش روبش- z محاسبه شده است.    پیوسته با طول موج 532 نانومتر و توان 130 میلی‌وات استفاده کردیم. علامت و

کلیدواژه‌ها


عنوان مقاله [English]

Measurement of nonlinear optical properties of nanostructured copper and zinc thin films

نویسندگان [English]

  • Mahsa Etminan 1
  • Fereshteh Hajesmaeilbeigi 2
  • Ataollah Kouhiyan 1
  • Yasaman Goliyan
  • Asmasadat Motamedi 3
چکیده [English]

In this study, nanostructure thin films of Cu and Zn are prepared bypulsed laser deposition (PLD) method and their nonlinear absorptioncoefficient and refractive index are studied by z-scan. The details ofPLD parameters are presented for both metals of Cu and Zn. A cwlaser beam at 532 nm and the output power of 130 mW was used in zscanexperiment. The sign and the magnitude of nonlinear absorptioncoefficient and refractive index of the nanostructure thin films aremeasured by z-scan curves.

کلیدواژه‌ها [English]

  • pulsed laser deposition
  • nanostructure thin films
  • nonlinear absorption coefficient
  • nonlinear refractive index

[1]    D. B. Chrisey and G. K. Hubler; “Pulsed Laser Deposition of Thin Films”; Wiley-VCH. (2003) 648.

[2]   S. R. Friberg and P. W. Smith; “Nonlinear Optical Glasses for Ultrafast Optical Switches”; IEEE Journal of Quantum Electronics 23, No. 12 (1987) 2089–2094.

[3]   R. Adair, L. L. Chase, and S. A. Payne; “Nonlinear Refractive-index Measurements of Glasses Using Three-wave Frequency Mixing.” JOSA B 4, No. 6 (1987) 875–881.

[4]   M. Sheik-Bahae, A. A. Said, T. H. Wei, D. J. Hagan, and E. W. Van Stryland; “Sensitive Measurement of Optical Nonlinearities Using a Single Beam” IEEE Journal of Quantum Electronics 26, No. 4 (1990) 760–769.

[5]   K. Jamshidi-Ghaleh and N. Mansour; “Nonlinear Refraction Measure- ments of Materials Using the Moiré Deflectometry” Optics Communications 234, No. 1 (2004) 419–425.